近些年，傳感器市場發展迅猛，應用領域非常廣泛，但不可否認的是，現有背照式CMOS傳感器在微透鏡和光電二極管之間只有一層低折射層，光電二極管無法收集遮光層間隙以外的光線，而且隨著像素密度的增加，遮光層的透光間隙寬度也會隨之減小，嚴重影響傳感器的光線收集能力和相位差檢測對焦速度。
現有傳感器內的光電二極管無法收集透光間隙外的光線
近日，佳能的一份新專利技術吸引了公眾的目光，隨著這份專利技術的公開，一種在傳感器內層鏡片和光電二極管之間嵌入高折射層的新技術也公之于眾。新技術利用高折射層自身特性，旨在于提高傳感器的光線收集能力和相位差檢測對焦速度。一般微透鏡折射率為1.6，低折射層的折射率為1.45，佳能此項新技術使用的高折射層的折射率達到了2.3。新技術通過在內層鏡片和光電二極管之間嵌入高折射層，將所有入射光線都聚焦在透光間隙內，從而達到提高光線收集能力和相位差檢測對焦速度的目的。
新傳感器技術原理
其實，在小編看來，佳能本次公開的這項新技術專利與尼康的改善傳感器光線收集能力的專利似乎是異曲同工。
